Выполним-студенческую-работу

Реферат Метод проектов как образовательная технология в дошкольном образовании. Учебная работа № 132068

Количество страниц учебной работы: 8
Содержание:
«Оглавление
ВВЕДЕНИЕ 3
МЕТОД ПРОЕКТОВ КАК ОБРАЗОВАТЕЛЬНАЯ ТЕХНОЛОГИЯ В ДОШКОЛЬНОМ ОБРАЗОВАНИИ 4
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 8
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 9

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
1. Киселёва Л.С., Данилина Т.А., Лагода Т.С., Зуйкова М.Б.. Проектный метод в деятельности дошкольного учреждения.- М.: АРКТИ, 2011г.
2. Кочкина Н.А. Метод проектов в дошкольном образовании: Методическое пособие/Электронный ресурс/Режим доступа: [http://modernlib.ru/books/n_a_kochkina/metod_proektov_v_doshkolnom_obrazovanii_metodicheskoe_posobie/read_1/].
3. Петрикевич А.А. Метод проектов в образовании дошкольников: пособие для педагогов учреждений, обеспечивающих получение дошкольного образования. — Мн.: ООО ИД «Белый Ветер», 2008.
4. Якиманская И.С. Технология личностно-ориентированного образования. — М.: Сентябрь, 2000.

»
Стоимость данной учебной работы: 585 руб.

 

    Укажите Ваш e-mail (обязательно)! ПРОВЕРЯЙТЕ пожалуйста правильность написания своего адреса!

    Укажите № работы и вариант

    Соглашение * (обязательно) Федеральный закон ФЗ-152 от 07.02.2017 N 13-ФЗ
    Я ознакомился с Пользовательским соглашением и даю согласие на обработку своих персональных данных.


    Учебная работа № 132068. Реферат Метод проектов как образовательная технология в дошкольном образовании

    Выдержка из похожей работы

    …      
    проверил:   Леднева Ф. И.
    г. Калуга
     1997 год.
    Содержание
    Введение                                                                                                3
    Взаимодействие ионов с веществом                                                  3
    Вторично-ионная эмиссия                                                                   5
    Оборудование ВИМС.                                                                         8
    Принцип действия установок.                                                            9
    Установки, не обеспечивающие анализа распределения
    частиц по поверхности     10
    Установки, позволяющие получать сведения о
    распределении                                    11
     элемента по поверхности, со сканирующим ионным
    зондом 
    Установки с прямым изображением                                                                               11
    Порог чувствительности                                                                      12
    Анализ следов
    элементов                                                                    14
    Ионное
    изображение                                                                                      16
    Требования к первичному ионному пучку                                                 17
    Масс-спектрометрический анализ нейтрал…

     

    Вам может также понравиться...